單(多)晶硅少子壽命測(cè)試儀
- 公司名稱 上海璟瑞科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問(wèn)次數(shù) 1010
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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單(多)晶少子壽命測(cè)試儀
型號(hào)LT-2
LT-2型單晶少子壽命測(cè)試儀是參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測(cè)量包括集成電路級(jí)硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單(多)晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測(cè)量等。
本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計(jì),由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺(tái)共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。
技 術(shù) 指 標(biāo):
測(cè)試單晶電阻率范圍>2Ω.cm
可測(cè)單晶少子壽命范圍5μS~7000μS
配備光源類型波長(zhǎng):1.09μm;余輝<1μS;
閃光頻率為:20~30次/秒;
閃光頻率為:20~30次/秒;
高頻振蕩源用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
前置放大器放大倍數(shù)約25,頻寬2Hz-1MHz
儀器測(cè)量重復(fù)誤差<±20%
測(cè)量方式采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式
儀器消耗功率<25W
儀器工作條件溫度:10-35℃、濕度<80%、使用電源:AC220V,50Hz
可測(cè)單晶尺寸斷面豎測(cè):φ25mm—150mm;L2mm—500mm;
縱向臥測(cè):φ25mm—150mm;L50mm—800mm;
配用示波器頻寬0—20MHz;
電壓靈敏:10mV/cm。
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