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SPD 2000 多功能X射線衍射儀(Multi Functional X-ray Diffractometer)

具體成交價以合同協議為準

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


興和儀器(上海)有限公司,前身是(株)新科上海代表處,負責中國大陸的所有業務。(株)新科公司成立于1990年,是韓國較大的熱重分析儀,差熱分析儀,激光顆粒度分析儀,X光探傷儀等分析儀器制造商。公司本著"為客戶提供*質的產品和服務"的理念,利用其強大的研發隊伍,在技術上用于創新,于1994年研發出代表較早技術的光電二極管陣列(PDA)紫外可見分光光度計。此外,我們為了滿足不同客戶的更多需求,與歐美Z*的分析儀器制造商們合作提供熱分析儀,高性能產品。
2004年,SCINCOCHINA在世界經濟飛速發展的中國經濟中心城市上海成立,并快速發展。目前已與重點城市的32個代理商建立了*的合作伙伴關系。能夠為客戶提供快捷、高效的服務。公司聘請*秀的中國員工來應對中國市場的快速變化。強大的市場活動使新科中國公司牢牢的扎根于中國。

宣傳新科的紫外可見分光光度計、熒光分光光度計、熱分析儀等產品的優勢。
擴大在中國區*代理的DISTEK和CILAS等產品的*。
借助在全中國的代理商網絡為客戶提供快捷的服務。

history:

2004.12  SCINCO CHINA成立

 2005.04  獲得DISTEK溶出儀在中國區的*代理

2005.05  參加ISCL 2005展會    舉辦*次中國代理商會議

 

2006.01  獲得CPA認證中華人民共和國計量器具型式批準證書

2006.03  舉辦第二次中國代理商會議

2006.09  參加Analytica China 2006展會

2006.11  由于公司規模擴大,搬入上海世界貿易大廈

 

2007.09  舉辦第三次中國代理商會議。

2007.10  參加BCEIA 2007展會

 

2008.03  獲得CILAS激光粒度儀在中國的*代理權  參加CISILE 2008展會

2008.07   舉辦第四次中國代理商會議

2008.09   參加Analytica China 2009展會

2008.11   由于公司規模擴大的需要,搬入上海置地廣場      組織美國藥典年會

 

2009.03  主辦USP研討會(濟南,天津)

 

2009.04  參加Int'l Powder展覽會

 

2009.05  主辦USP研討會(南京)

 

2009.07  主辦USP研討會(廣州,杭州,沈陽)

 

2009.11   參加BCEIA展覽會

 

2010.03  主辦USP研討會(常州,蘇州)

 

2010.04  主辦USP研討會(臺州,上海)

 

2010.05  主辦USP研討會(石家莊)

 

2010.08  主辦USP研討會(成都,廣州)

 

2010.09  Analytica China展覽會

 

2010.10  主辦USP研討會(杭州)

 

2010.11  獨立的法人實體"興和儀器(上海)有限公司"在中國上海成立

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

激光粒度儀,熱分析儀,馬弗爐,光譜儀,量熱儀,工業CT機,X射線探傷機

SPD 2000 多功能X射線衍射儀儀器簡介:
 

用途:定性及定量分析,殘余應力分析,薄膜,質地,非常規環境分析,奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算

多功能X射線衍射儀 技術參數:
 

? 常規的定性和定量分析 
? 殘余應力分析 
? 薄膜,質地 
? 非常規環境分析 
? 殘留奧氏體定量分析 
? 晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算 
應用領域 
? 環境,土壤/巖石,粘土,礦石,陶瓷 
? 水泥,玻璃,石油,催化劑,聚合物 
? 農業科學,生物科學,化學,醫藥,化妝品,涂料 
? 核工業,鋼鐵,紡織,電子和磁性材料

多功能X射線衍射儀 主要特點:
 

SPD 2000為廣泛的分析需求提供了解決方案,從常規的定性和定量分析,到殘余應力分析,薄膜,質地,非環境分析,殘余奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算。 
SPD 2000的特點 
多功能X射線衍射儀 
有原位微處理器的超高穩定性的X射線發生器,微處理器可通過電腦串行接口控制 
帶有可旋轉管的管罩,可以使用點聚焦或行聚焦 
調焦Kα1單色器可以得到高亮度和分辨率 
使用Max-FluxTM光學系統的平行光束光學 
透射模式和反射模式之間可以自動轉換 
高精度,高速測角儀 
適合Ag,Cr, Fe, Cu, Co , Mo 輻射的二級單色器 
填充氙氣的正比,閃爍計數器,線性或彎曲的位敏檢測器(PSD) 
非常規環境分析,低溫或高溫附件 
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系統,在32位環境下進行數據處理和儀器控制 
包括Rietveld精修的晶體結構軟件

 



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