SPD 2000 多功能X射線衍射儀儀器簡介:
用途:定性及定量分析,殘余應力分析,薄膜,質地,非常規環境分析,奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算
多功能X射線衍射儀 技術參數:
? 常規的定性和定量分析
? 殘余應力分析
? 薄膜,質地
? 非常規環境分析
? 殘留奧氏體定量分析
? 晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算
應用領域
? 環境,土壤/巖石,粘土,礦石,陶瓷
? 水泥,玻璃,石油,催化劑,聚合物
? 農業科學,生物科學,化學,醫藥,化妝品,涂料
? 核工業,鋼鐵,紡織,電子和磁性材料
多功能X射線衍射儀 主要特點:
SPD 2000為廣泛的分析需求提供了解決方案,從常規的定性和定量分析,到殘余應力分析,薄膜,質地,非環境分析,殘余奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算。
SPD 2000的特點
多功能X射線衍射儀
有原位微處理器的超高穩定性的X射線發生器,微處理器可通過電腦串行接口控制
帶有可旋轉管的管罩,可以使用點聚焦或行聚焦
調焦Kα1單色器可以得到高亮度和分辨率
使用Max-FluxTM光學系統的平行光束光學
透射模式和反射模式之間可以自動轉換
高精度,高速測角儀
適合Ag,Cr, Fe, Cu, Co , Mo 輻射的二級單色器
填充氙氣的正比,閃爍計數器,線性或彎曲的位敏檢測器(PSD)
非常規環境分析,低溫或高溫附件
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系統,在32位環境下進行數據處理和儀器控制
包括Rietveld精修的晶體結構軟件