上海棱光技術(shù)有限公司
原上海精科-上海第三分析儀器廠
WYL-4應(yīng)力雙折射儀
市場(chǎng)價(jià):8000元
折扣價(jià):6400元 包運(yùn)費(fèi)帶17%的增票
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:楊淋
儀器簡(jiǎn)介:
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因,其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力,引起雙折射,晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理,通過(guò)對(duì)樣品的光程差的定量測(cè)定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測(cè)定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別,是光學(xué)儀器制造業(yè)*的儀器,也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具,廣泛應(yīng)用在國(guó)防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)方面,是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
儀器特點(diǎn):
l直讀納米級(jí)光程差,無(wú)須計(jì)算。
l雙分視場(chǎng)零位檢測(cè),靈敏度高。
l樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位。
l體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
l操作方便,可靠實(shí)。
技術(shù)指標(biāo):
l單色光波長(zhǎng):589.44nm
l光程差測(cè)定范圍:(0~590)nm
l分度盤分度值:5 nm
l零位誤差:±2nm
l測(cè)量重復(fù)性:1nm
l被測(cè)試樣尺寸:寬度≤440mm,高度≤240 mm,長(zhǎng)度不限