DT307-FZ-C--法拉第效應塞曼效應綜合實驗儀詳細介紹

1945年，法拉第（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的時，發現了一種現象，當一束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加一個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面轉過一個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象后來稱為法拉第效應。1896年,荷蘭物理學家塞曼（P.Zeeman）發現當光源放在足夠強的磁場中時，原來的一條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類別而不同，后人稱此現象為塞曼效應。法拉第效應和塞 曼 效應是19世紀實驗物理學家的重要成就之一，它們有力的支持了光的電磁理論。

　　本公司生產的DT307-FZ-C型法拉第效應塞 曼 效應綜合實驗儀是在I型的基礎上改進而成，將原來一維調節的氦氖激光器改為兩維調節的半導體激光器，這樣完成法拉第效應時調節更加準確方便，并且激光輸出功率更加穩定。電磁鐵中心磁場強度也比以前有了顯著提高，zui大可以達到1.4T。測角儀器將原來的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線位移），這樣讀數更加方便。該實驗儀可以作為大專院校光學及近代物理實驗教學使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。

　　儀器主要技術參數：

　　1. 半導體激光器 波長 650nm 輸出功率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm

　　2. 電磁鐵 zui大磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關）

　　3. 勵磁電源 zui大輸出電流 5A zui大輸出電壓 30V

　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　6．讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm

　　7．法拉第效應 zui小測角約 2分

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