長處

紅外透射膜厚度監(jiān)測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過同時測量 100 多個波長的光譜儀，準(zhǔn)確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數(shù)。

1. 
   

• 1

• 測量半透明片材、
  低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測量法中是困難的

2. 
   

• 2

• 微型光纖探頭

  由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，
  它可以安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。
  此外，由于探頭僅通過
  光纖連接到主機(jī)，因此具有出色的耐環(huán)境性。

3. 
   

• 3

• 高速測量：
  在
  100 個點(diǎn)或更高處同時采樣 950~1650 nm 的近紅外波長

  可實(shí)現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。
  可以在生產(chǎn)線上進(jìn)行實(shí)時檢測和測量。
  由于干涉濾光片不旋轉(zhuǎn)，因此具有出色的耐用性和可靠性。

4. 
   

• 4

• 厚度測量重復(fù)性：0.1% 或更低 （3σ）

5. 
   

• 5

• 兩種可選的測量算法

  測量算法	校準(zhǔn)樣品	測量目標(biāo)
  Beer-Lambert 法	1 種	僅厚度
  最小二乘回歸	2 種或更多類型	倍數(shù)（厚度、密度、特定成分的混合量等）

測量示例（鋰離子電池隔膜）

測量示例（硅襯底上黑色光刻膠的膜厚）

配置