杭州葛蘭帕：Science first，助力中國科技進步
【化工儀器網 本站速遞】原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope，AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質，可以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。
杭州葛蘭帕科技有限公司(以下簡稱：杭州葛蘭帕)成立于2006年，隸屬香港葛蘭帕控股集團。公司先后與美國 Asylum Research，美國AFMworkshop，美國MinusK，保加利亞Budgetsensors，瑞士nanoworld，法國Stil 達成了戰略合作協議，成為他們在中國區的總代理商或代表處，公司主營原子力顯微鏡，及其附件耗材，并且提供相關技術服務。經過12年的高速發展，公司建立了完善的售前售后團隊，并獲到了合作科研院所的廣泛好評。2020年開始，公司將涉足原子力顯微鏡的開發與生產。
近期，杭州葛蘭帕與化工儀器網達成長期合作，入駐化工儀器網成為其中級會員。作為在科學與儀器和分析測試行業深耕20年的專業平臺，化工儀器網擁有強大的技術運營實力和互聯網營銷經驗。借助化工儀器網這一平臺，杭州葛蘭帕將更加深入市場，為客戶提供來自葛蘭帕的先進產品與技術服務，為客戶創造更高的附加值。
產品介紹
低溫掃描探針顯微鏡
HR-AFM低溫掃描探針顯微鏡是一款專業級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。
低溫掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針X,Y,Z三軸分離的掃描器。視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調，放大倍率從45倍到400倍機械可調。提供可視化下針，可以通過電腦精確觀察控制下針過程，防止撞針。
納米掃描探針顯微鏡
納米掃描探針顯微鏡可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構(納米級別)；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。
納米掃描探針顯微鏡技術參數：
掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方向范圍：17 μm，7 μm
XY方向驅動分辨率：0.01 nm
Z方向驅動分辨率：0.003 nm
Z方向測量噪音水平：0.15 nm
樣品尺寸：直徑25mm
afm原子力顯微鏡探針
afm原子力顯微鏡探針技術參數：
針尖：<10nm
力學常數：48N/m(28-75N/m)
共振頻率：190KHz(160-220KHz)
長度：225 um(215-235um)
寬度：38 um (33-43um)
厚度：7 um (6-8um)
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