IONTOF是*的TOF-SIMS的研究者和制造商。

 

 

IONTOF是由Alfred Benninghoven教授，Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年創立，創始人Prof.Benninghoven教授是國際靜態二次離子質譜的奠基人，他們團隊始終帶領國際二次離子術的發展，從上世紀80年代初開始，Benninghoven教授和他的研究組就致力于飛行時間二次離子質譜的系統和應用研究。依托于明斯特大學和州納米中心的技術和人才優勢，TOF-SIMS已經發展成為重要的表面分析手段。

TOF.SIMS 5從2003年定型到現在已經成為市場上相當成功的飛行時間二次離子質譜系統。到2016年，世界上已經有超過350套高性能的TOF.SIMS系統成功地應用在世界各地的公司和學術研究機構中。

北京艾飛拓科技有限公司作為德國IONTOF公司的中國總代理，成立于2012年。主要負責飛行時間二次離子質譜儀（ToF-SIMS，型號：M6）、低能離子散射能譜儀（LEIS，型號：Qtac100）和高分辨磁力顯微鏡（hr-MFM，型號：VLS-80）這三類產品，在中國大陸及港澳地區的銷售、售后、宣傳、培訓、技術服務等工作。

公司成員來自北京大學、中科院物理所等高等院校研究生，“以物理學、材料學、國際貿易等專業背景打造核心團隊，秉承引進國際質譜領域*技術的理念，以提高我國材料分析技術為核心目標，密切與國內多所高校、研究機構、科技公司合作，共同攻克技術難題。”