德國徠卡顯微系統公司專業生產：DVM5000HD高清光學數碼顯微鏡，DVM2500實時動態三維光學數碼顯微鏡，DM8000M，DM12000M晶圓檢查顯微鏡，FPD,COG，導電粒子檢查顯微鏡，DM8000M-UV,DM12000MUV OLED檢查顯微鏡，DM系列CD測量設備，DM系列鑄造合金孔隙率檢測顯微鏡。

       德國LEICA 徠卡晶圓和FPD檢查顯微鏡LEICA DM8000M LEICA DM12000M  是經典的INM100,INM200,INM300顯微鏡的較早換代產品  產品特性● 0.7倍高級宏觀物鏡視野達到40毫米● 徠卡的立體斜照明，可以快速檢查晶圓表面的微小裂紋 ●所有物鏡均帶電子CODE,可被軟件自動識別，刻度尺自動伸縮，無需自選● 徠卡的超級暗場術背景更黑缺陷一目了然 ● UV高分辨率，可以快速直接觀察到120納米的線條 ●立體UV觀察，可以對凸塊，溝槽側壁清晰地觀察 ●大型載物臺搭載：可用于400*300mm液晶基板，300mm晶圓全面檢查(DM12000M)● 采用高NA的透射光聚光鏡，圖象更銳利● 多種觀察方式，多種照明方式，多種附件以滿足不同應用要求● 透射和反射照明可同時使用，*提高液晶基板觀察效果LEICA DM8000M LEICA DM12000M 產品特點縮短檢查用時，提高檢查效率自動聚焦附件透射光檢查照明*的自動聚焦附件可配合所有的反射光照明觀察方式，甚至包括暗視場和微分干涉相襯觀察。實現快速和精確的自動對焦，甚至觀察方式轉換時也能實時準確的找到焦面。兩種照明裝置可選，通用型及高數值孔徑型。為FPD，MASK板檢查提供合適的照明，并且可配備起偏鏡，實現投射光簡易偏光觀察。高反差，更高分辨率，更高倍率檢查用于光刻膠殘留檢查的熒光觀察方式熒光分光鏡模塊 UV光學系統可以提供更高的反差和分辨率，分辨率可達0.12μm。備有U.B.G等多種熒光方式可選，用于光顆膠殘留以及OLED檢查。方便的通訊接口用于顯微鏡倍率和孔徑光闌的控制和參數獲得 RS232C用于晶圓以及器件，甚至焊腳的內部檢查近紅外線觀察附件標配包括一個RS232C接口，使得用PC控制顯微鏡電動部分成為可能，并且可以實現使工藝線上的幾臺顯微鏡都在同樣的設定狀態下工作。包括專門的紅外物鏡等附件，對從可見光到近紅外波段光線的像差做矯正，用于IC深層或內部檢查，可實現對WAFER BUMP的全面檢查自動線寬CD測量附件以亞像素技術實現高度精確的CD測量，OVERLAY測量，套刻測量

     作為世界Z*的光學儀器廠家，160年來徠卡公司推出了世界*的LEICA金相顯微鏡，工業顯微鏡，偏光顯微鏡，立體顯微鏡，體視顯微鏡，實體顯微鏡，測量顯微鏡，圖像分析系統，工業切片機，工業檢測系統。  將光學技術,電子技術,自動化技術和軟件技術結合起來,德國徠卡能為電子行業，汽車行業，材料行業的特定檢測需求提供更加專業的解決方案。